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天線測量的問題
文章來源: 互聯(lián)網(wǎng) 錄入: mweda.com
近場測量系統(tǒng)中,探頭陣列對(duì)待測天線的平面波照射是測量的關(guān)鍵技術(shù)之一
我想問下,平面波照射待測天線是起到什么作用?謝謝!
網(wǎng)友回復(fù):
天線近場測量實(shí)際上是用的互易原理,也就說我們要測量天線的遠(yuǎn)場特性(增益,方向圖等)。而近場測量中我們用陣列探頭綜合出某個(gè)方向入射的平面波來照射被測天線,根據(jù)互易原理,此時(shí)被測天線的接受幅度實(shí)際上就是相當(dāng)于被測天線在該方向的輻射遠(yuǎn)場幅度。這樣我們就得到了該天線的輻射遠(yuǎn)場特性。
不知道我寫清楚了沒有。如果沒有寫清楚,請(qǐng)指出哪里有疑問我繼續(xù)回答。
網(wǎng)友回復(fù):
非常感謝,你說的很清楚!
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