使用Agilent矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀解決射頻和微波測量領(lǐng)域的難題

圖3顯示了在VNA上進(jìn)行的IMD測量。上圖顯示了使用頻譜分析儀進(jìn)行的掃描操作。該方法直觀、易懂，但會(huì)使用不必要的數(shù)據(jù)，從而耗費(fèi)更多的測試時(shí)間。下圖顯示的方法更佳，其中的數(shù)據(jù)主要來自IMD和兩個(gè)測試信號(hào)。

使用VNA進(jìn)行的測量相對(duì)于其它方法具有兩個(gè)突出優(yōu)點(diǎn)。第一，用戶使用一臺(tái)測試儀器和一套連接組件即可獲得全部測量數(shù)據(jù)：例如S參數(shù)、增益壓縮、輸出諧波和IMD。第二，通過VNA基于功率計(jì)的校準(zhǔn)，可獲得比使用頻譜分析儀更高的測量精度。

由于頻率轉(zhuǎn)換設(shè)備，例如混頻器或轉(zhuǎn)換器，需要額外的本地振蕩器（LO）信號(hào)，故VNA的備用內(nèi)部源非常適合測試這類設(shè)備，。進(jìn)行掃描LO測試時(shí)更是如此，因?yàn)榭梢詫?duì)擁有固定偏移值的LO信號(hào)和射頻輸入信號(hào)進(jìn)行同步掃描。這是測量寬帶頻率轉(zhuǎn)換器前端元器件頻率響應(yīng)的常見測試方法。使用VNA的內(nèi)部信號(hào)發(fā)生器發(fā)出的LO信號(hào)可以顯著提高測量速度。例如，相對(duì)于使用外部Agilent PSG信號(hào)發(fā)生器，帶有選件246的N5230A能夠?qū)�掃描LO測量的掃描速度提高35倍。圖4顯示了對(duì)單階頻率轉(zhuǎn)換器的測量。上圖顯示了對(duì)轉(zhuǎn)換器IF過濾器的頻率響應(yīng)進(jìn)行的固定LO測量。下圖的掃描LO測量顯示了轉(zhuǎn)換器的前端平坦度。

安捷倫還提供專為混頻器和轉(zhuǎn)換器測量設(shè)計(jì)的先進(jìn)的誤差校正程序。這些程序通過校正測試系統(tǒng)中被測件的輸入匹配和源匹配之間的失配，將轉(zhuǎn)換損耗或轉(zhuǎn)換增益測量的失配波動(dòng)降至最低。目前已經(jīng)開發(fā)了一項(xiàng)類似的技術(shù)對(duì)混頻器和轉(zhuǎn)換器群延遲進(jìn)行低波動(dòng)絕對(duì)測量。

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