優(yōu)化的邊緣參數(shù)的準確性問題

做一個仿真，計算微帶線特性阻抗。有兩個全局變量：介質$FR(3.8-4.6)，介質板的厚度：$H(1mil-3mil)
我用參數(shù)掃描的時候計算的特性阻抗如圖。

用優(yōu)化的時候（求40歐姆特性阻抗對應的FR和H），cost函數(shù)為：ZK(端口的特性阻抗)-40，目標為0，權值為1，可接受誤差0.05。計算結果如下：

比較兩幅圖可見，對40歐姆的特性阻抗而言，參數(shù)應該?。篐=2mil，F(xiàn)R=4.2(參數(shù)掃描和優(yōu)化一致都說明了這一點），但是當H和FR取其他值的時候)，為什么cost函數(shù)會偏差如此之大。
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