CST MWS中可以讀出特定點(diǎn)的電場強(qiáng)度嗎？

CST中計(jì)算了某一頻點(diǎn)的電場強(qiáng)度，怎么讀出仿真物體上特定點(diǎn)處的電場強(qiáng)度的數(shù)值呢？

你可以在該特定點(diǎn)處設(shè)置探針，通過探針來讀取該點(diǎn)處的電場強(qiáng)度。
結(jié)果就在1D Results里面。

Probe……？

哦，謝謝，我試一下

好像真的是Probe。

再問一下哈，加探針好像是只能讀出電場強(qiáng)度一個方向（如X方向）的分量是吧？不能讀出總的大小

好 好學(xué)學(xué)

根據(jù)2011的幫助文件，可以實(shí)現(xiàn)"create simultaneously (orientation all) a set of three probes with component in the x-, y- and z- direction"。

我想研究不同距離信號衰減情況，是不是對比不同點(diǎn)PROBE測出的電場就可以？

直接得到的話，是。
可以通過后處理來實(shí)現(xiàn)“abs”值。