CST MWS中天線使用離散源饋電怎么觀察反射系數(shù)

我在CST MWS中建立了一個反射鏡TEM喇叭天線，天線模型見附件，反射鏡為半橢球，采用TEM喇叭饋電，饋源在橢球的第一個焦點處，該天線的作用是將能量聚焦在橢球的第二個焦點，請各位幫忙解決下這些問題：
1. 如何觀察反射損耗？
2.我想看看電場從第一個焦點到達(dá)第二個焦點時的群延遲，可能我設(shè)置不對，老報錯，請問群延時怎么弄？
3.這個是天線上的問題：我使用幅值為1V的高斯脈沖進行饋電，在焦點處得波形幅值小于1，而仿真的增益卻比較大，這個為什么？ 描述:天線模型

天線模型：

你是如何定義“反射損耗”的？
你是如何設(shè)置“群遲延”的？報錯的具體信息是什么？
你是如何觀察增益的？“增益”和“幅值”的關(guān)系是什么？

一點都不懂。

反射損耗就是根據(jù)S參數(shù)觀察的，其他模型中我在兩個饋電臂的末端添加了電阻，仿真時就出現(xiàn)了S參數(shù)。具體反射損耗應(yīng)該是指由于阻抗不匹配輻射到反射面上的電場反射回饋源的損耗
群延時 在Macors--Filiter Analysis--group Delay Computation，但是好像只能設(shè)置從port1到port1，錯誤是“Error in macro execution",但是這畢竟不是我要關(guān)注的重點，如果我要觀察從port1出發(fā)到達(dá)第二個焦點處的群延時，我要在第二個焦點處也設(shè)置port嗎？
增益在仿真前Macors--Farfield--Boardband farfield monitors,仿真完了之后在后處理1D Results中計算出來；我對頻域和時域比較暈，時域電場波形的幅值比較高能夠說明增益很高嗎？

感覺你對這三個問題的思路都不夠清晰。
反射損耗（Reflection Loss）的定義你表述得并不清楚，我看了還是不知道你的這個定義的細(xì)節(jié)。電場的什么？功率嗎？有沒有公式？這個定義和Return Loss（或者S11）有什么區(qū)別？
群遲延既可以在Macro里設(shè)置，也可以在Template Based Postprocessing里設(shè)置，具體參數(shù)請參考CST MWS幫助文件《Filter Analysis / Group Delay Computation》和《1D / Group Delay Time》。個人沒有計算過，沒有更多建議。
關(guān)于增益，你都沒說清楚是"Gain(IEEE)"還是"Realized Gain"。你的Probe觀察的是時域電場X方向的電壓，你的Farfield Monitor觀察的是天線在某一頻率點的“增益”，一個時域、一個頻域，天上一腳地下一腳，陰陽兩界人鬼殊途。完全木有可比性……

我要觀察的就是 Return loss，可以沒有S參數(shù)，我該怎么計算？
增益的話Gain（IEEE）和RealizedGain有什么區(qū)別啊？我算的是Gain（IEEE）

以后描述問題需要注意學(xué)術(shù)上的嚴(yán)謹(jǐn)性，Return Loss的學(xué)術(shù)翻譯不是“反射損耗”。
你的這兩個問題說明你不看幫助文件。使用離散端口計算S參數(shù)，必須使用"S-Parameter Type"的離散端口。CST MWS幫助文件《Discrete Port Overview》。按照你的模型的原始設(shè)置，計算得到的S11如下：

增益的區(qū)別請閱讀CST MWS幫助文件《Farfield Overview》。