CST 阻抗優(yōu)化？

在CST天線仿真設計中采用離散端口的話，激勵的阻抗值不同，對同一模型仿真得到的反射系數(shù)都不同。如果想對天線在一個頻帶范圍內(nèi)進行阻抗優(yōu)化的話，雖然可以采用參數(shù)化建模，但是優(yōu)化目標的時候，只能選擇S參數(shù)做為優(yōu)化目標。
如果采用50歐姆激勵，在頻帶范圍內(nèi)得不到收斂的結果。而且由于不知道中間優(yōu)化過程中的結果，可能存在著天線盡管不收斂于50歐姆激勵，但是可能收斂于100歐姆激勵的情形。
請問下，對此種情形如何設置優(yōu)化目標進行阻抗優(yōu)化？謝謝！

Maybe try to analysis the line impedance of your structure. Then just apply a waveguide port and simulate for port mode only. Set up parameter sweep for dimension modification and plot the line impedance variation in 0D results.

好的，謝謝版主的提醒，不過我是先仿真天線的方向圖，等方向圖的性質(zhì)確定后再考慮阻抗優(yōu)化，發(fā)現(xiàn)天線的阻抗不收斂，在頻帶內(nèi)很發(fā)散，所以我才打算再返回來重新優(yōu)化天線的結構，這里只能是細調(diào)節(jié)天線的結構參數(shù)。

終于整上中文輸入了！今天之內(nèi)每回一貼都先吼一嗓子……
好的，個人經(jīng)驗，結構的細調(diào)不會對方向圖帶來顯著的影響，尤其對已經(jīng)耦合了Ground Plane的設計。

采用CST提供的VBA宏程序已經(jīng)解決了上次的問題，如今在程序中自動設置激勵阻抗，匹配采用輸入阻抗匹配。由輸入阻抗的實部和虛部來確定激勵值，然后再計算頻段內(nèi)的反射系數(shù)。

太強了！請問是怎么做到的?。?“匹配采用輸入阻抗匹配”，輸入阻抗怎么得到的??？