CST MWS Probe電場波形在掃參過程中的后處理？

大家好，有點(diǎn)小問題請教下。通過cst探針設(shè)置可以觀測電場時(shí)域波形，在掃參的過程中，是否可以通過后處理或者其他辦法，得到不同參數(shù)下該探針檢測到的一系列時(shí)域電場波形？在cst里可以實(shí)現(xiàn)嗎，如果有哪位有經(jīng)驗(yàn)的話，麻煩指點(diǎn)下，請?jiān)敿?xì)一點(diǎn)，新手非常感謝！

我也想知道 但對于這個(gè)問題好像只有自己通過VBA編程實(shí)現(xiàn)

后處理就那么幾項(xiàng)，你自己好好看一下不就知道了嘛。后處理搞不定的話恐怕只有VBA這條路了