CST仿真屏蔽效能問題
經(jīng)常看到有人在仿屏蔽效能的時(shí)候，是用MWS或MS，通過加平面波激勵(lì)，然后利用有屏蔽和無屏蔽兩種情況下的某點(diǎn)場(chǎng)強(qiáng)來得到SE。
這里我有幾個(gè)想法和疑問，求各位批評(píng)指教
1 屏蔽效能應(yīng)該是既能反映屏蔽殼對(duì)內(nèi)部干擾的屏蔽效果，又能體現(xiàn)對(duì)外部干擾的阻礙效果。
比如我要考慮機(jī)殼對(duì)內(nèi)部輻射向外發(fā)射的屏蔽效果，那這時(shí)候我由CST的這種從外部加平面波激勵(lì)，從內(nèi)部接受而得到屏蔽效能結(jié)果是否還有效呢？
2 但屏蔽殼體積較小，即內(nèi)部干擾源離屏蔽殼很近，外部接收天線離干擾源很遠(yuǎn)的時(shí)候，對(duì)機(jī)殼來說，在不同頻段，既存在于近場(chǎng)區(qū)中，又存在于遠(yuǎn)場(chǎng)去中。對(duì)于近場(chǎng)區(qū)的屏蔽效果怎樣衡量呢？
3 從不同位置，不同方向激勵(lì)和接收，得到的屏蔽效能值是不同的。那箱體的屏蔽效能到底是指的什么情況下得到的值呢…
頭腦混亂中…求指教…
1、電磁場(chǎng)的互易定理，發(fā)射等同于接受，屏蔽外來干擾就能阻隔內(nèi)部對(duì)外干擾
2、在內(nèi)部干擾源位置設(shè)置探針，仿真出來的屏蔽效能是多少就是多少
3、不同位置不同方向的照射，我的理解應(yīng)該是找其中最差的屏蔽效能作為機(jī)箱的屏蔽效能
我想通過CST仿真得到機(jī)箱的有關(guān)時(shí)間的腔體效應(yīng)，應(yīng)該怎么操作，（選取了電磁脈沖從孔縫耦合開始的前5ns的時(shí)間）求指教
關(guān)于時(shí)間的監(jiān)視器，就是設(shè)置瞬態(tài)監(jiān)視器
另：探針結(jié)果中有時(shí)域信號(hào)
,有大師指教一二不？我都愁死了
你要仿什么？屏蔽效能還有什么不清楚的么
感謝回復(fù)…
小弟電磁場(chǎng)基礎(chǔ)薄弱……不懂電磁場(chǎng)的互易定理…不過我覺得從屏蔽體內(nèi)部看，如果屏蔽體位于干擾源的近場(chǎng)區(qū)，而仿真時(shí)的外加激勵(lì)是平面波，這相當(dāng)于是屏蔽體位于干擾源的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)…這樣的情況還是符合互易定理么…
互易就是說，仿真電磁波向外輻射時(shí)箱體的屏蔽效能，和仿真電磁波照射箱體時(shí)的屏蔽性能，這兩種情況得到的屏蔽性能應(yīng)該是相等的
你說的這意思我明白…那也應(yīng)該是在內(nèi)外都是相同種類的激勵(lì)下吧？ 近場(chǎng)區(qū)，不管是電偶極子還是磁偶極子，電場(chǎng)的分量都和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)不同啊…
樓主和一樓都是高手啊
