微帶線的阻抗仿真

求助各位大神，需要仿真一個(gè)微帶板，中間是介質(zhì)板，上面和下底面是寬度一定的金屬片，要求下底面的金屬片寬度是一定的
然后上頂面的金屬片寬度不停的變化，每變一點(diǎn)仿真一下，然后取出這個(gè)微帶板的特性阻抗
這個(gè)應(yīng)該怎么弄啊
求助大神了

什么叫“每變一點(diǎn)仿真一下”？參數(shù)掃描么？

就是比如下底板是5cm寬的金屬片上頂面有個(gè)1cm寬的金屬片，我想讓它從1cm一直變到5cm，每隔0.5cm變一下，然后每變化一次寬度都仿真一次，每仿真一次都把它端口的特性阻抗的數(shù)據(jù)提取出來
不知道怎么弄啊，網(wǎng)上也沒有這種教程，找了好幾天了

Parameter Sweep.

這個(gè)怎么用啊。有沒有教學(xué)什么的

CST MWS幫助文件《Parameter Sweep》。
CST MWS Tutorial《Signal Integrity: Simulation of Via Model》。

找找在線例子

好吧我看看

這個(gè)真沒有在線的例子啊。找不到啊

這個(gè)例子可以參考：