CST MWS中XZ截面大小的調(diào)整

各位大神，我想請問一下：我建完了模型，后面運算完了之后，點了3D Field on 2D Field，選取了XZ截面觀察它的內(nèi)部電場分布情況，但是我想把這個截面調(diào)整地大一些。因為它的XZ截面好像就等于物體的橫截面，我想把它的XZ調(diào)整到比橫截面大的視角，這個可以嗎？

不能放大么？

不能啊
因為這個截面關(guān)系到我的取值，要是這個截面太小的話，我有很多XZ截面上的值取不到啊……
要是這樣的一個截面的話，我取出來的數(shù)據(jù)就會少很多，很多數(shù)據(jù)我就得不到。
怎么樣才能把這個XZ平面的值取到足夠多的數(shù)量啊？這個在哪里可以設(shè)置啊？

完全看不懂你想說什么……

這么說吧，我想取y=0、XZ平面上的各個點的電場強度，怎么求？求指教

你用后處理操作試試吧，能取到任意點的電場強度的。

后處理是指探針嗎？

Post Processing:就是處理仿真后的數(shù)據(jù)的，有很多功能能用。具體根據(jù)自己需要選擇?？旖萱Ishift+P

不是探針，在這里計算：