CST 2015展覽 概覽
[2015.3.30-4.1] IWS2015
會(huì)議時(shí)間： 2015.3.30-4.1
會(huì)議地點(diǎn)： 深圳市中心福田喜來(lái)登酒店
會(huì)議詳情：
5G 及以上頻段無(wú)線與光纖通信的融合
第三屆IEEE MTT-S 國(guó)際無(wú)線會(huì)議（IWS 2015）將于2015年3月30日至4月1日在中國(guó)深圳舉行。 IWS在中國(guó)每年舉行一次，以提供一個(gè)在微波電路，硬件，以及與現(xiàn)有的和新興的無(wú)線系統(tǒng)的物理層方面的RF系統(tǒng)的最新技術(shù)成果的展示和交流的國(guó)際論壇。 此外，為了應(yīng)對(duì)在未來(lái)5G標(biāo)準(zhǔn)的大量無(wú)線流量，IWS 2015的研討重點(diǎn)是無(wú)線和光纖系統(tǒng)之間的銜接。IWS 2015 將由“并行會(huì)議”、“研討會(huì)”和“最新無(wú)線商業(yè)產(chǎn)品展示”三個(gè)組成部分。
[2015.4.14-16] EDI CON 2015
一個(gè)面向高頻/高速電子行業(yè)的新型技術(shù)會(huì)議和行業(yè)展覽，由《微波雜志》和業(yè)界共同打造。
會(huì)議時(shí)間：2015.4.14-16EDI CON 2015
會(huì)議地點(diǎn)：北京國(guó)家會(huì)議中心
會(huì)議詳情：
EDI CON由《Microwave Journal》和《微波雜志》（Microwave Journal China）主辦，其母公司是Horizon House和香港雅時(shí)媒體集團(tuán)。雅時(shí)是多本高科技專(zhuān)業(yè)雜志的出版商和《微波雜志》的合作出版方。Horizon House是《Microwave Journal》和《微波雜志》的出版方，也是經(jīng)驗(yàn)豐富和口碑良好的活動(dòng)組織者，包括幾個(gè)主要的與微波相關(guān)的會(huì)議/展覽，如有35年歷史（至2009年）的IEEE MTT-S國(guó)際微波研討會(huì)和代表歐洲微波協(xié)會(huì)（EuMA）組織的歐洲微波周（EuMW）。Horizon House的精心策劃使兩個(gè)活動(dòng)獲得了長(zhǎng)期發(fā)展和成長(zhǎng)。EDI CON是主辦方聯(lián)合射頻/微波和高速集成電路、元器件、測(cè)試和測(cè)量、軟件、電纜/連接器、系統(tǒng)和服務(wù)領(lǐng)域的領(lǐng)先國(guó)際技術(shù)公司共同打造的業(yè)界盛會(huì)。
[2015.4.27-29] IVEC 2015
會(huì)議時(shí)間：2015.4.27-29
會(huì)議地點(diǎn)：北京國(guó)家會(huì)議中心
會(huì)議詳情：
The International Vacuum Electronics Conference will take place in Beijing, China. CST will be joining scientists and engineers from around the world to discuss the latest developments in vacuum electronics technology.
估計(jì)屆時(shí)會(huì)展示最新的 CST EMC STUDIO 吧？
24號(hào)去UK Customer Workshop，估計(jì)少不了介紹EMC Studio。
10:00 Welcome and Introduction: Ralf Ehmann and Mohan Jayawardene, CST
10:10 2015 New Features: Marc Rütschlin, CST
11:15 Antenna Design and Installed performance: Emma Kowalczuk, CST
11:45 Online workflow for Antenna Arrays: Alex Ibbotson, CST
12:15 Multiband antenna matching with Optenni: Stergios Papantonis, CST
12:30: Lunch
13:30 EMP and Lightning on Buildings: Arnab Bhattachayra, CST
14:00 Modelling material properties based on measured data: Alex Ibbotson, CST
14:30 Complete Technology for Automotive Applications: Arnab Bhattacharya, CST
15:00 Coffee break
15:15 CST's Simulation Capabilities for Space Applications: Marc Rütschlin, CST
15:45 PIC Simulations and Multipaction workflow: Emma Kowalczuk, CST
16:15 Coffee, Discussion and Close
坐等 emc工作室 的來(lái)臨。
Modelling material properties based on measured data看到了這個(gè)，坐等消息了
PS：為什么每次PIC都在最后，看來(lái)用的人確實(shí)太少了
管理員記得分享一下啊
