CST 仿真的時域值與屏蔽效能評價

在MS中，仿真帶孔腔體，在孔處加孔陣式金屬管后可以減少腔體內(nèi)部的電場值，然后可以計算出加管子與不加管子的電場值和屏蔽效能，仿真加入管后，時域值極大地減小了，證明這個管子具有一定的屏蔽能力，可是當(dāng)我計算屏蔽效能（頻域）時，發(fā)現(xiàn)屏蔽效能是有所增加，但也增加了很多的諧振頻點，而且諧振頻點處的屏蔽效能加入管子后反而降低了，如下圖所示，那我該如何評價這個金屬管的能力呢？這個管子是有用還是沒用呢？

評價一個東西的屏蔽效能是要考慮其屏蔽的頻率范圍的，
不可能說對全頻段進(jìn)行屏蔽，
但要盡量在較寬的頻帶內(nèi)保持較為穩(wěn)定的屏蔽效能，
即避免諧振點，這就需要進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計了。

對于避免諧振頻點有什么好的方法嗎？

對于理想結(jié)構(gòu)，可以通過理論來計算諧振點，非理想結(jié)構(gòu)，基本只能通過仿真掃參。
你也可以用等效電路法，但這種方法既不好用，也也不精確。

那有沒有具體措施可以消除這個諧振頻點？比如按照什么原則改變腔體結(jié)果什么的。

可以看看場圖在什么地方諧振，然后更改結(jié)構(gòu)，破壞諧振就可以了

你說的場圖指的是頻域結(jié)果圖？看頻域結(jié)果在什么頻點處出現(xiàn)波峰，此處即為諧振頻點？

就是filed monitor里添加諧振頻點的場監(jiān)視器

只要箱體內(nèi)設(shè)備的工作頻率不落在諧振點的附近，確切講，諧振帶寬內(nèi)，諧振不用可以改變。

在FDTD中仿真時，在帶孔的屏蔽箱體中加上一根貫通導(dǎo)體 發(fā)現(xiàn)箱體內(nèi)電路上的干擾電流大幅度增加。而且隨著貫通導(dǎo)體暴露于機(jī)箱外部長度增加，干擾電流增強(qiáng)。