關(guān)于CST仿真的參數(shù)掃描
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更新時(shí)間：2024-08-11
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請問：在某兩個(gè)尺寸分別為lx和ly的情況下（lx和ly分別從15變化到70），欲檢測某點(diǎn)電場，可否用一種簡單的方法進(jìn)行模擬?
（我原先的方法是：固定lx，對ly進(jìn)行參數(shù)掃描；而后復(fù)制仿真后數(shù)據(jù)。這種方法需要掃描50次以上，并且每次都需要耗時(shí)40min）
小編你好，怎么看一點(diǎn)的電流?想怎么看極化方式
