CST MWS  XZ截面大小的調(diào)整
來源:edatop
更新時(shí)間:2024-08-29
閱讀:
各位大神,我想請(qǐng)問一下:我建完了模型,后面運(yùn)算完了之后,點(diǎn)了3D Field on 2D Field,選取了XZ截面觀察它的內(nèi)部電場分布情況,但是我想把這個(gè)截面調(diào)整地大一些。因?yàn)樗腦Z截面好像就等于物體的橫截面,我想把它的XZ調(diào)整到比橫截面大的視角,這個(gè)可以嗎?
不能放大么?
不能啊
因?yàn)檫@個(gè)截面關(guān)系到我的取值,要是這個(gè)截面太小的話,我有很多XZ截面上的值取不到啊……
要是這樣的一個(gè)截面的話,我取出來的數(shù)據(jù)就會(huì)少很多,很多數(shù)據(jù)我就得不到。
怎么樣才能把這個(gè)XZ平面的值取到足夠多的數(shù)量啊?這個(gè)在哪里可以設(shè)置啊?
完全看不懂你想說什么……
這么說吧,我想取y=0、XZ平面上的各個(gè)點(diǎn)的電場強(qiáng)度,怎么求?求指教
你用后處理操作試試吧,能取到任意點(diǎn)的電場強(qiáng)度的。
后處理是指探針嗎?
Post Processing:就是處理仿真后的數(shù)據(jù)的,有很多功能能用。具體根據(jù)自己需要選擇。快捷鍵shift+P
不是探針,在這里計(jì)算: