CST MS仿真腔體屏蔽效能
我用MS仿真帶孔腔體的屏蔽效能時，在有無腔體兩種情況下，監(jiān)測腔體中心點處的電場值，然后將兩種電場值進行對數(shù)運算，得到有孔腔體的屏蔽效能，可是我在仿真時，我發(fā)現(xiàn)，我得到的結果中，沒有腔體時的場強值要小于有腔體時的場強值，這和理論上不符合啊，理論上來說應該是沒有腔體（沒有屏蔽體）時的電場值應該很大才對，是我仿真時有什么錯誤的地方嗎?我在仿真沒有腔體時就是監(jiān)測了自由空間中的電場值，MS里面沒有任何模型，網(wǎng)格選擇的是100%，這個是不是有問題?
這個不一定的，有可能腔體在某個頻點處強諧振，這樣的話SE是有可能為負值的
哦，懂得啦！多謝大蝦！我還想請問一下，我在使用MS仿真腔體的時，我選用的是 TLM（傳輸線矩陣法），TLM是用于處理對稱的問題，那我在檢測腔體內(nèi)部的電場值時，為什么可以檢測任意位置的值（該位置不是關于軸對稱的）?而且TLM在MS中也可以處理不規(guī)則的腔體結構?
TLM的應用中并無結構對稱性一說 復雜的腔體照樣OK
您好！我在進行這種仿真的時候探針的場強有波紋，看教程說應該用AR濾波器，但是我琢磨了半天也沒弄出來，都是提示No ar-filter results available，能稍微詳細的講解一些怎么加ar濾波器嗎?謝謝
是計算屏蔽效能嗎 這里應該用AR濾波器沒什么用的，因為主要關心的是探針處的場強值，AR濾波器可能不起作用吧
你把仿真結果中Energy截個圖發(fā)來瞧瞧
energy是看什么的呢?發(fā)一下我的探針測得的場強吧。
你看這個圖包絡形狀符合理論，但是波紋很大，看教程應該是用ar濾波器，但是“AR filter for port signals“這個選項是灰色的，具體應該怎么設置呀?能留個qq之類的聯(lián)系方式嗎?
應該用“AR-Filter for Probe Signal”這個選項。
也是灰色的。是因為時域TLM求解后不能用ar濾波器嗎?
沒用過TLM，不知道。
你可以試著加長仿真時間，達到微秒級試試。
改用時域仿真后用AR濾波器了，問題解決了，謝謝你
我不是很懂，那TLM要求的是什么對稱?
T可以用AR，TLM好像不能AR濾波器
嗯，我也發(fā)現(xiàn)這個問題了，所以就換時域仿真了
建議還是使用TLM，因為可以使用精簡模型，可以適當增加仿真時間，這樣得到的曲線紋波就會少很多
謝謝你！剛好我的這個仿真量不大，用時域圖會好一些謝謝
我仿真時發(fā)現(xiàn)加長仿真時間會使波紋較少很多，可是這是為什么?麻煩指點啊！
Field energy降低了。
CST MWS幫助文件《Time Domain Solver Performance Improvement》。
我也在做腔體SE研究，腔體外測得的E值過高的話，可以把Probe的位置放得再遠點，我試過，離腔體越遠，越接近激勵的值，應該是諧振的問題。我用的transient solver， AR濾波器效果不錯
